計量校準控制圖異常主要表現(xiàn)形式可以分為儀器校正測量點超出控制界限和測量點的分布不隨機。現(xiàn)行的國際標準（ISO0 8258: 1991）和國家標準(GB/T 4091-2001)總結(jié)了常見的測量過程異常的8種分布模式，從而給出了對應的8種異常判據(jù)。

如果平均值控制圖出現(xiàn)異常，則表明測量過程受到不受控的系統(tǒng)效應的影響。而若標準偏差控制圖出現(xiàn)異常，則表明測量過程受到不受控的隨機效應的影響。

下面介紹常見的8種控制圖異常檢驗模式。在采用控制圖進行儀器校準測量過程控制時，需要指出，計量校驗測量結(jié)果除了會受到測量過程的影響之外，還會受到被測對象的影響。因此，如果能找到一個比較穩(wěn)定的核查標準并對其進行連續(xù)的定期觀測，根據(jù)由定期觀測結(jié)果計算得到的統(tǒng)計控制量（例如平均值、標準偏差或極差）的變化情況，可以推斷出測量過程是否處于統(tǒng)計 控制狀態(tài)，因此，采用調(diào)節(jié)控制圖方法的前提是需要一個量值穩(wěn)定的核查標準。申請計量標準考核的單位應盡可能尋找量值穩(wěn)定的核查標準。如果實在找不到量值穩(wěn)定的核查標準，便不可能采用制圖方法對其測量過程進行連續(xù)和長期的統(tǒng)計控制。在高頻和微波功率計量中，熱敏阻座是一種穩(wěn)定的核在標準。