測定限與檢出限兩者聯系與區別

計量校準測定限是定量分析方法實際可能測定的某組分的下限。

與檢出限不同，測定限不僅受到測定噪聲限制，而且還受到空白背景絕對水平的限制，只有當分析信號比噪聲和空白背景大到一定程度時才能可靠地分辨與檢測出來。

噪聲和空白背景越高，實際能測定的濃度就越高，說明高的噪聲和空白背景值會使測定限變壞。

檢出限是指產生一個能可靠地被檢出的分析信號所需要的某元素的小濃度或含量，而測定限則是指定量分析實際可以達到的極限。

因為當元素在試樣中的含量相當于方法的檢出限時，雖然能可靠地檢測其分析信號，證明該元素在試樣中確實存在，但定量測定的誤差可能非常大，測量的結果僅具有定性分析的價值。

測定限在數值上總應高于檢出限。

檢出限是分析測試的重要指標，對于儀器性能的評價和方法的建立都是重要的基本參數之一。

在日常檢測過程中，檢出限為具體量度指標，特別是在痕量分析中，痕量分析誤差與樣品含量相對于檢出限的倍數相關聯。

檢出限的確定對于分析方法的選擇具有重要意義。

對檢出限的忽視有可能導致檢測結果的不確定度增大。

長期以來，各個領域的檢測人員針對檢出限概念、估算方法及在各個不同領域的應用都進行了大量的探討。

像分析儀器在測定過程中存在與噪音相區別的小信號檢出問題，計量校準同時也存在著分析方法能可靠測定物質低含量的界限問題，這兩個概念有著本質的不同。

在實際應用中，儀器檢出限、方法檢出限及樣品檢出限及測定下限的概念經常混亂。

在檢驗檢疫行業中，進出口產品的種類繁多，涉及的領域也是多種多樣，對檢測人員的要求高，為保障進出口產品質量把關服務的有效進行，合理的使用儀器分析，科學有效的評估儀器分析，都要求在儀器的檢出限等各項指標上有個清晰完整的認識。