科學技術的發(fā)展

愛因斯坦在普朗克假說的基礎上，提出了光不僅具有波動性，而且還具有粒子性，即光是以速度c運動的粒子（光子）流，其單元（光子）的能量為?E=hυ，從而說明不同頻率的光子具有不同的能量。儀器計量上述理論成功地解釋了光電效應，成了熱輻射計量的理論基礎，同時也使計量開始從宏觀進入微觀領域。隨著量子力學、核物理學的創(chuàng)立與發(fā)展，電離輻射計量逐漸形成。

核能及化工等的開發(fā)與應用，導致了第三次技術革命。在這個時期，科學技術和社會經濟的發(fā)展更加迅速。原子能、化工、半導體、電子計算機、超導、激光、遙感、宇航等新技術的廣泛應用，使計量日趨現代化，計量的宏觀實物基準逐步向量子（自然）基準過渡。原子頻標的建立和米的新定義的形成,有著相當重要的意義。頻率和長度的精密測量，促進了現代科技的發(fā)展。比如，光速的測定、原子光譜的超精細結構的探測以及航海、航天、遙感、激光、微電子學等許多科技領域，都是以頻率和長度的精密測量為重要基礎的。

至于人們廣泛談論和關注的所謂第四次技術革命，將引起科技、經濟和社會的重大變革，人類將進入"超工業(yè)社會"或"信息社會"。那時，不可再生的石化燃料能源將替換成可再生的太陽能、海潮發(fā)電等新能源，鋼鐵、機械、橡膠等傳統(tǒng)產業(yè)將被電子工業(yè)、宇航工程、海洋工程、遺傳工程等新興產業(yè)所征服，等等。這場技術革命的先導是微電子學和計算機，而集成電路又可以說是先導的核心。計量檢測集成電路的研制，沒有相應的計量保證是不可想象的。比如，硅單晶的幾何參數、物理特性，超純水、超純氣的純度，化學試劑、光刻膠的性能，膜層厚度、層錯位錯，離子注入深度、濃度、均勻度以及工藝監(jiān)控測試圖形等的測定與控制，都是精密測量。當前，我國集成電路研制尚比較落后，計量工作跟不上是其中的原因之一。

總之，科學技術的發(fā)展，特別是物理學的成就，為計量的發(fā)展創(chuàng)造了重要的前提，同時也對計量提出了更高的要求，推動了儀器校準的發(fā)展；而計量的成就，又促進了科技的發(fā)展。正如門捷列夫所說："沒有計量，便沒有科學"。聶榮臻同志也曾明確指出："科技要發(fā)展，計量須先行"；"沒有計量，寸步難行"。