線(xiàn)紋尺的儀器校驗(yàn)方法

線(xiàn)紋尺的計(jì)量?jī)x器檢定方法可分為絕對(duì)法和 計(jì)量校準(zhǔn)校驗(yàn)相對(duì)法。

絕對(duì)法：是用波長(zhǎng)作為標(biāo)準(zhǔn)直接測(cè)量線(xiàn)紋尺兩刻線(xiàn)間的距離。

相對(duì)法：是以一個(gè)作為標(biāo)準(zhǔn)的線(xiàn)紋尺和被檢尺進(jìn)行比較。

絕對(duì)法儀器檢測(cè)可采用激光干涉比長(zhǎng)儀或光電光波比長(zhǎng)儀。

相對(duì)法儀器檢定一般在光學(xué)式比長(zhǎng)儀上進(jìn)行。

線(xiàn)紋尺計(jì)量檢定的方式可分為并聯(lián)縱動(dòng)式。

線(xiàn)紋尺計(jì)量檢測(cè)的方式可分為并聯(lián)縱動(dòng)式、并聯(lián)橫動(dòng)式和串聯(lián)縱動(dòng)式。

計(jì)量校準(zhǔn)的方式是工作臺(tái)作縱向運(yùn)動(dòng)：

優(yōu)點(diǎn)是并排放置，儀器尺寸及占地面積小可連續(xù)比電磁儀器校驗(yàn)較兩尺的任意間隔。

缺點(diǎn)是不符合阿貝原則，測(cè)量誤差較大，因而只適用于中、低準(zhǔn)確度線(xiàn)紋尺的檢定。

并聯(lián)橫動(dòng)式比較檢定的方式是工作臺(tái)作橫向運(yùn)動(dòng)：

優(yōu)點(diǎn)是橫向移動(dòng)的范圍可很小，儀器結(jié)構(gòu)尺寸小，符合阿貝原則測(cè)量誤差較小。

缺點(diǎn)是只能比較兩尺的固定長(zhǎng)度，不能進(jìn)行兩尺連續(xù)間隔的比較。

并聯(lián)縱動(dòng)式比較檢定的方式是工作臺(tái)作縱向運(yùn)動(dòng)。

優(yōu)點(diǎn)是符合阿貝原則’測(cè)量誤差較小，可連續(xù)比較被檢尺與標(biāo)準(zhǔn)尺的任意間隔。

缺點(diǎn)是兩尺串聯(lián)放置，使儀器結(jié)構(gòu)尺寸較大，溫度不易平衡，計(jì)量檢測(cè)要防止兩線(xiàn)紋尺的相對(duì)位置在測(cè)量過(guò)程中產(chǎn)生變化'以及顯微鏡之間距離的變化。