光譜干擾效應及其削除方法

分析法與經典發射光譜法相比。總的來說干擾較小，分析結果的精密度可與化是測定中有時必須了解干擾，并想辦法消除這些干擾，以減小測量誤差。擾普線干擾和背景吸收干擾兩大類。主要來自于光源和原子化器，也與共存元在著光源發射的非吸計量檢測檢定收線（如鉻空心陰極燈氫的357.7 nm和鉻的357.9 nm吸收斤線與共存元素的吸收線相重疊（如Ge的分析線422. 66 nm與共存元素Ca的重疊）以及原子化器內的直流發射等是主要的譜線干擾。為了消除譜線干擾，可和燈電流、另選分析線以及采用對光源進行機械調制或脈沖供電等方法。

計量檢測種非待測原子的吸收，是一種非選擇性吸收，主要包括分子吸收和光散射，干大。光散射是指吸收池內未揮發的固體顆粒，會對入射光產生散射而入單色器，偏離光路而不為檢測器所檢測，造成假吸收。高溫石墨爐在原子化霧與固體顆粒，光散射比火焰原子化器嚴重得多。光散射一般可通過儀器調零收是一種帶吸收，常見的分子吸收有三種類型：物的分子吸收這是由于原子化器的溫度低或金屬化合物難解離，使一些金屬形式存在，不衡器校準同分子具有不同的吸收帶。當某一待測元素測定波長正好落在分/然產生干擾。分子吸收  當波長小于250 nm時，H2 S04有較強的吸收，H3P04與H2 So4類內有強的吸收。HN03、HCI、HC104等無機酸即使在波長小于250 nm處，吸在原子吸收分析中，樣品處理盡量采用HN03、HC1、HC104，而避免使用二的吸收火焰的成分主要有N2、CO.H2 .H2 0、C02 .OH.NO.cN.Cz等。這些波長處產生吸收，儀器維修對測定產生干擾。雖然火焰氣體吸收及引入空白試液時引起收可通過計量儀器校準調零來校正。